上海環(huán)境可靠性試驗(yàn)及電磁兼容試驗(yàn)中心可以依據(jù)GB2423，IEC60068等標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施高低溫振動(dòng)，高低溫低氣壓綜合試驗(yàn)服務(wù)，實(shí)驗(yàn)后，出具國(guó)家認(rèn)可的檢測(cè)報(bào)告！
詳細(xì)的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)如下：
1.低溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)
我方可靠性試驗(yàn)檢測(cè)中心可以依據(jù)下列的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施試驗(yàn)，并出具國(guó)家認(rèn)可的權(quán)威檢測(cè)報(bào)告。
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AFc：散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)GB/T2423.35-2005IEC60068-2-50:1983
2.高溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/BFc：散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的高溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)GB/T2423.36-2005IEC60068-2-51:1983
3.溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（隨機(jī)）綜合
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/ABMFh：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（隨機(jī)）綜合GB/T2423.59-2008
4.溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（正弦）綜合
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（正弦）綜合GB/T2423.102-2008