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GJB128A-97《半導體分立器件試驗方法》
GJB150.3-86《軍用設備環境試驗方法高溫試驗》
MIL-STD-810F《環境工程考慮與實驗室試驗》
GJB4.2-83《艦船電子設備環境試驗高溫試驗》
GJB360A-96電子及電氣元件試驗方法方法108高溫壽命試驗
MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗方法》
GJB367A-2001《軍用通信設備通用規范》4.7.28高溫試驗
GJB548A-96《微電子器件試驗方法和程序》
MIL-STD-883D《微電子器件試驗方法和程序》
GB/T2423.2-2001《電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫》
SJ/T10325-92《汽車收放機環境試驗要求和試驗方法》4.1高溫負荷試驗
SJ/T10325-92《汽車收放機環境試驗要求和試驗方法》4.2高溫貯存試驗
GB/T13543-92《數字通信設備環境試驗方法》
RTCA/DO-160E機載設備環境條件和試驗方法